お知らせ

　未来塾FUT公開講座「走査電子顕微鏡による金属材料の表面分析」（講師：本学機械工学科 羽木秀樹 教授）を平成30年7月21日（土）に開催し、3名の方にご参加いただきました。
　最初に走査電子顕微鏡（SEM）の用途や特徴について説明があり、二次電子像観察、反射電子像観察、吸収電子像観察、透過電子像観察、EDS（元素）分析などの機能について学んでいただきました。
　その後、本学の所有する走査電子顕微鏡にて、元素分析を行い、含有元素量などを観察しました。
　参加者からは、「走査電子顕微鏡で見る世界は面白い。」「丁寧な説明で分かりやすかった。」の声をいただきました。